小麥表型檢測(cè)儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長(zhǎng)、總粒數(shù)、千粒重和莖稈莖節(jié)長(zhǎng)度等指標(biāo)的測(cè)量,可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。
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產(chǎn)品分類0571-85859925
小麥表型檢測(cè)儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長(zhǎng)、總粒數(shù)、千粒重和莖稈莖節(jié)長(zhǎng)度等指標(biāo)的測(cè)量,可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。
查看詳情水稻表型檢測(cè)系統(tǒng)可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長(zhǎng)、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標(biāo)的測(cè)量,可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。
查看詳情MJZ-II面筋指數(shù)測(cè)定儀具有運(yùn)轉(zhuǎn)平穩(wěn),性能穩(wěn)定、操作方便等特點(diǎn),是同類進(jìn)口儀器的理想替代產(chǎn)品。
查看詳情單頭面筋測(cè)定儀適用于小麥粉、顆粒粉或全麥粉的測(cè)定,廣泛應(yīng)用于食品和面粉加工、糧油質(zhì)檢、糧食貯藏、大專院校和科研機(jī)構(gòu)等部門。
查看詳情降落數(shù)值測(cè)定儀可準(zhǔn)確判斷谷物的發(fā)芽損傷程度,適用于谷物,尤其是小麥和小麥粉的測(cè)定,是糧食貯藏、面粉加工、食品加工等領(lǐng)域中進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)的儀器。
查看詳情KM-DMII大米碎米測(cè)定儀用于代替人工目測(cè)來(lái)客觀、快速、準(zhǔn)確地自動(dòng)檢測(cè)大米的加工精度,具有重復(fù)性和再現(xiàn)性好等優(yōu)點(diǎn)
查看詳情磁性金屬物測(cè)定儀適用于質(zhì)量監(jiān)督、面粉(以及各類糧食粉類)加工、糧食儲(chǔ)運(yùn)、購(gòu)銷、科研等需對(duì)粉類磁性金屬物的含量進(jìn)行測(cè)定的部門。
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